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KL-12晶圆激光切割机 主推

KL-12 晶圆激光切割机

晶圆切割 激光烧蚀 高精度

专业半导体晶圆加工设备,采用紫外激光烧蚀技术,适用于6寸及以下晶圆的高精度切割,切割精度±0.01mm。

KL-300 X射线CT检测系统 主推

KL-300 X射线CT检测系统

X射线检测 CT成像 无损检测

高分辨率X射线CT检测系统,实现半导体封装内部缺陷3D可视化检测,无损检测晶圆裂纹、空洞、分层等缺陷。

半导体设备整体解决方案

科立自动化半导体设备系列,覆盖晶圆切割与封装检测两大核心环节。从晶圆激光切割到X射线CT无损检测,为半导体制造企业提供完整的工艺解决方案。

晶圆切割方案 CT检测方案 获取方案报价

半导体设备常见问题

科立KL-12晶圆激光切割机切割精度可达±0.01mm,采用紫外激光烧蚀技术,热影响区极小,适用于6寸及以下晶圆的高精度切割加工。

KL-300 X射线CT检测系统可检测晶圆内部裂纹、空洞、分层、焊线缺陷、封装气泡等多种内部缺陷,实现无损3D成像检测,分辨率可达微米级。

支持。科立拥有30年非标定制经验,可根据您的晶圆尺寸、切割工艺、检测需求等定制专属半导体设备方案。欢迎来电咨询,我们提供免费工艺评估。

标准机型交付周期30-45个工作日,非标定制机型根据复杂程度60-90个工作日。我们提供前期工艺验证服务,确保设备到厂即可投入生产。

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