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KL-12 晶圆激光切割机
专业半导体晶圆加工设备,采用紫外激光烧蚀技术,适用于6寸及以下晶圆的高精度切割,切割精度±0.01mm。
晶圆激光切割机、X射线CT检测系统,专业半导体封装与检测设备
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专业半导体晶圆加工设备,采用紫外激光烧蚀技术,适用于6寸及以下晶圆的高精度切割,切割精度±0.01mm。
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高分辨率X射线CT检测系统,实现半导体封装内部缺陷3D可视化检测,无损检测晶圆裂纹、空洞、分层等缺陷。
科立KL-12晶圆激光切割机切割精度可达±0.01mm,采用紫外激光烧蚀技术,热影响区极小,适用于6寸及以下晶圆的高精度切割加工。
KL-300 X射线CT检测系统可检测晶圆内部裂纹、空洞、分层、焊线缺陷、封装气泡等多种内部缺陷,实现无损3D成像检测,分辨率可达微米级。
支持。科立拥有30年非标定制经验,可根据您的晶圆尺寸、切割工艺、检测需求等定制专属半导体设备方案。欢迎来电咨询,我们提供免费工艺评估。
标准机型交付周期30-45个工作日,非标定制机型根据复杂程度60-90个工作日。我们提供前期工艺验证服务,确保设备到厂即可投入生产。
我们的工程师将为您提供专业的半导体设备选型建议